部門12:半導体・ＩＣ測定器
12.1 ＩＣテストシステム
(1) ＬＳＩ／ＶＬＳＩテスタ
(2) メモリテスタ
(3) ミックスドシグナルテスタ
@リニアＩＣテスタ
Aその他
12.2 ＩＣテストシステム周辺機器
(1) オートハンドラ
12.3 半導体特性測定システム（ＬＥＤテストシステムを含む）
12.4 半導体特性測定
(1) パラメトリック・テスタ
(2) 半導体パラメータ・アナライザ
12.5 半導体特性測定器
(1) カーブトレーサ
12.6 ボードテスタ
(1) インサーキットテスタ
(2) その他