| 会社名 |
形名・品名 |
用途・性能等 |
価格
（千円） |
| アドバンテスト |
Ｔ６５７５Ａ／６５６５Ａ／
６５３５Ａ
ＳｏＣテスト・システム |
Ｔ６５７５Ａ／６５６５Ａ／６５３５Ａは、高精度デジタル試験に加え、高電圧電源オプションやフリーラン・クロック機能を搭載。ＡＤＣ／ＤＡＣや混載メモリなど様々なデバイス測定に最適な機能を提供します。
さらにマッチを含む同時測定機能の強化などテスト・パフォーマンス向上とコンシューマ向けデバイスのフル試験を容易に実現します。 |
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| アドバンテスト |
Ｔ２０００
ＳｏＣテスト・システム |
T2000は，米国STCが公開するOPENSTAR規格のオープン・アーキテクチャを採用した次世代テスト・システム．用途別にテスタを揃える必要がなく，MPUやMCU，RFデバイスなどのテスト対象デバイスに応じたテスト・モジュールを交換することで，ニーズに合ったシステム構築が可能．OPENSTAR規格に準拠したモジュールなら，アドバンテスト製に限らず自由に組合せてカスタマイズできます．システムの最適化により，テスト・コストを最小限に抑えることが可能です． |
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| アドバンテスト |
Ｔ６５７７
ＳｏＣテスト・システム |
T6577は、薄型テレビやDVDレコーダ等のデジタル家電製品に使用されるSoCデバイスの試験に最適設計されたテスト・システムです。最高125/250/500Mbps(データ
・レート）の高速試験速度、ピン数は最大1024chで同時測定個数最大32個（OS同測、奇数個同測可能）を実現しました。 |
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| 横河電機 |
ＳＴ６７３０
ＦＰＤドライバテストシステム |
多ピン化，多階調化，低価格化するLCDドライバ．18ビット精度のパーピンディジタイザと750MHzデータレートのディジタル部により，10/12ビットソースドライバに対応．1チップ化が進携帯用ドライバに対しても，ソース・ゲートをパーピンディジタイザとパーピンコンパレータの同時測定で高速にテストできる．LCDピンは最大2400ピン，I/Oピンは最大388ピン．標準4個同時測定でテスト時間を大幅に短縮．データレートは750MHz（最大1.2ＧＨｚ：オプション），クロックレートは375MHz（最大600ＭＨｚ：オプション）まで発生可能．しかも50mVから対応するので高速化，低電圧化するシリアルインタフェースにも対応． |
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