| 会社名 |
形名・品名 |
用途・性能等 |
価格
（千円） |
| アドバンテスト |
Ｔ５３７７S
メモリ・テスト・システム |
T5377Sは、143MHz/286Mbps（DDRモード）の高速試験でも同時測定個数の低下を招かない新アーキテクチャを採用しました。さらに、アドレス・フェイル・メモリの分割による交互独立動作、ウエハ・ビットマップへのデータ転送の高速化、豊富なDCチャンネル構成（128CH/ステーション）などにより、従来比10%以上のスループット向上を実現。また、1ステーション構成のため、システム・レイアウトの最適化や多品種展開の効率化に対応し、テスト期間の短縮化に貢献します。 |
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| アドバンテスト |
Ｔ５５０１ |
T5501は，GDDR3/4-SDRAMやSRAM,DDR3-SDRAMなどの高速デバイスに対応するテスト・システムです．同時測定個数は，最大32個で高速，高精度な測定が可能です．高速デバイスの評価から生産まで高精度にサポートします． |
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| アドバンテスト |
Ｔ５５８８
メモリ・テスト・システム |
T5588は、高速化・大容量化するDDR2-SDRAMなどのメモリ/デバイスの量産に最適な高スループット・テスタです。最高800Mbpsの試験速度、512個同時測定により、大幅なテスト・コスト低減を実現しています。さらにフラッシュ測定機能を強化するなど、
多様化するニーズにも柔軟に応えます。 |
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| アドバンテスト |
Ｔ５７８１／５７８１ＥＳ
メモリ・テスト・システム |
T5781は、パーサイト・アーキテクチャの採用によりＭＣＰ／Ｆｌａｓｈデバイスを効率よく測定できます。さらに業界最高クラスの試験速度266ＭＨｚ／533Ｍｂｐｓ，同時測定個数最大５１２個を実現。またT5781の機能・性能をそのままに小型化したエンジニアリング・ステーションT5781ＥＳにより、デバイスの設計および評価に貢献します。 |
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| アドバンテスト |
Ｔ５７６１／５７６１ＥＳ
メモリ・テスト・システム |
T5761は、ＮＡＮＤ型フラッシュ・メモリのサイト内２ＤＵＴ測定を可能にするパーサイト・アーキテクチャを採用。最大５１２個同時測定およびデバイス毎に独立した試験を高スループットで行うことができます。またT5761ＥＳは、T5761の機能・性能をコンパクトに凝縮したエンジニアリング・ステーションでテスト・プログラムの開発や少量デバイスの評価・低コスト化に貢献します。 |
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| アドバンテスト |
Ｔ５５０３
メモリ・テスト・システム |
T5503は、次世代高速メモリＤＤＲ３−ＳＤＲＡＭのパッケージ試験を業界
最高速３．３Ｇｂｐｓの試験速度で最大１２８個同時測定を実現しました。
また、当社従来機種と比べフロア面積、消費電力共に約４０％削減し、
省エネでかつ省スペースな生産ラインの構築が可能です。 |
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