| 会社名 |
形名・品名 |
用途・性能等 |
価格
（千円） |
| アドバンテスト |
Ｔ６３７３
ＬＣＤドライバ・テスト・
システム |
T6373は、最大で3,072のＬＣＤチャンネルと512のＩ／Ｏチャンネルを搭載可能です。640ピンおよび720ピンのドライバＩＣなら最大4個、またＢＩＳＴ対応ドライバの場合は、最大32個同時測定可能です。さらに高速・高精度のデジタイザ、およびＤＣ（ＬＣＤｃｈ）テスト・ユニットをパーピンで配置しており、多ピン/高精度（12bit/4,096階調）な最新のドライバＩＣの測定を高スループットで実現します。 |
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| アドバンテスト |
Ｔ７７２３
ミクスドシグナル・
テスト・システム |
T7723は、車載/電源などのパワー部の高集積化に対応したマルチポート・フローティング・ハイ・パワーＤＣユニット、高性能/高電圧パーピン・ＤＣユニット、高速/高電圧デジタル・ユニット（混載可）で、多様な複合高機能デバイスの多数個同時測定に対応し、テスト時間の短縮、テストコストの低減を実現します。 |
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| アドバンテスト |
Ｔ６３７２
LCDドライバ・テスト・システム |
T6372は、LCDピンを最大1536ピン、デジタル・ピンを最大256ピンまで拡張可能。384ピン・デバイスで4個、720ピン・デバイスで2個および480ピン・デバイスで3個の奇数個同測にも対応し、テスト・コスト低減に貢献します。さらに、高速・高精度のデジタイザの採用で最新のLCDドライバに対応します。 |
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| アドバンテスト |
Ｔ７７２１／７７２２
ミクスドシグナル・
テスト・システム |
T7721は，リニア／ミクスド・デバイスの性能評価，および量産試験に，優れたコスト・パフォーマンスで対応します．また，広帯域Mixedオプションにより，広範囲なリニア／ミクスド・デバイス試験も可能です． |
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