| 会社名 |
形名・品名 |
デバイス
パッケージ |
オートローダ／
アンローダ |
温度範囲 |
同時
測定数 |
備考 |
価格
（千円） |
| アドバンテスト |
Ｍ７５２２
ダイナミック・テスト・ハンドラ |
ＴＡＢ、ＣＯＦ
35/48/70mm
ワイド型、
スーパーワイド型ほか |
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７パーフォレーション
ピッチ・デバイスの
４個同時測定（オプション） |
リール径：最大620mm
デバイスの長さ：最大128
パーフォレーションピッチ |
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| アドバンテスト |
Ｍ６２４２
ダイナミック・テスト・ハンドラ |
ＢＧＡ、ＣＳＰ、
ＴＳＯＰ１、 |
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−40℃〜+125℃
−55℃〜+125℃
（オプション） |
最大512個 |
スループット：42,200個／時間 |
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| アドバンテスト |
Ｍ６２４１
ダイナミック・テスト・ハンドラ |
ＢＧＡ、ＣＳＰ、
ＴＳＯＰ１、
ＴＳＯＰ２ |
|
−40℃〜+125℃
−55℃〜+125℃
（オプション） |
最大512個 |
スループット：20,000個／時間 |
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| アドバンテスト |
M６３００
ダイナミック・テスト・ハンドラ |
BGA, CSP,
TSOP1, TSOP2 |
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-30℃〜+125℃
-55℃〜+125℃(オプション） |
最大256個 |
スループット
12,000個/時間 |
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| アドバンテスト |
M６５４２AD
ダイナミック・テスト・ハンドラ |
TSOP、SOP、
SOJ、QFP、
BGA、
CSP（トレイ使用） |
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-30℃〜+125℃
-55℃〜+125℃(オプション） |
最大128個 |
スループット
6,200個/時間 |
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| アドバンテスト |
Ｍ７５２１Ａ
ダイナミック・テスト・ハンドラ |
TAB，COF，
35／48／70mm
ワイド／スーパーワイド型 |
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＋50〜+125℃
（オプション） |
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最大直径620mmリール
デバイス長：最大16パーフォレーションピッチ
パンチ部：最大2基
（オプション対応） |
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| アドバンテスト |
Ｍ４７４１Ａ
ダイナミック・テスト・ハンドラ |
CSP，BGA，
QFPほか |
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＋50〜+125℃
（オプション） |
最大4
個 |
ファインピッチ用ビジョン（オプション） |
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