| 会社名 |
形名・品名 |
用途・性能等 |
価格
（千円） |
| 日置電機 |
１２３０
ベアボードハイテスタ |
部品内蔵基板検査に対応した計測ユニット.回路の回り込みによる誤差要因を排除するために,最大5ポイントまでのガード電位が設定できる.
EAD検査を用いた内蔵LSIに対して, 接続信頼性検査・ピン間O/S検査・消費電流検査が可能. |
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| 日置電機 |
１２３１
ベアボードハイテスタ |
テストヘッド（検査治具）を用いた一括検査装置で、高密度配線基板の4端子検査に対応. ワークの供給・位置補正・検査・搬出と同時処理を行うインデックス方式で,
待ちのないマルチタスクを実現. 高い繰り返しメカ精度でφ10μm内へのプローピングができる. |
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| 日置電機 |
１２３２
ベアボードハイテスタ |
水平ダブルシャトルと呼ばれる方式により、基板搬送に要する無駄な時間をなくし, トータル検査時間の短縮を実現.
SIM-LINEから生成される理論抵抗値と高精度4端子抵抗測定がパターンの信頼性を保証. 0.05mmの薄物基板に対応. |
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| 日置電機 |
１２３３-０１
ベアボードハイテスタ |
テストヘッド（検査治具）を用いた一括検査で，ファインピッチ基板の量産品検査に対応する基板検査装置．
検査時間は0.4s/1024ポイントで，1ピースあたりのタクトタイムは3s/1ピースの高速検査可能．
最大3000ピースの多面取り基板に対応でき，テストヘッドを経済的に製作できる． |
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| 日置電機 |
１２３４−００・１２３４−０１
ベアボードハイテスタ |
MCM・BGA・FC-PGA・FC-BGA・CSPなど高密度ファインピッチ基板の量産品検査に対応する基板検査装置.
基板外形サイズ260mm×160mmのインデックステーブルでトータルスループットの高速化を実現. ステップ＆リピート検査により,
基板に優しく, ファインピッチ基板への接触安定性向上も実現. |
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| 日置電機 |
１２３６−１０・１２３６−１１
ベアボードハイテスタ |
テストヘッド（検査治具）を用いたファインピッチ基板の量産品検査に対応する高速基板検査装置. 測定時間は0.4秒/1,024ポイント,
最大150mAの大電流による導通検査が可能. 用途に合わせて2種のスキャナボード・4種の計測ボードより最適なシステムを構築できる.（-10/-11） |
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| 日置電機 |
１１１６ Ｘ‐Ｙ Ｃ
ハイテスタ |
2アーム搭載により検査スピードは1115の2倍速で最高0.010秒／stepの超高速検査を実現．移動反復精度は±20μmの高精度で，ファインピッチの微細パッドも確実にプロービングできるうえ，容量測定分解能は5aFの高分解能で微小な変化を確実に検出できる．検査エリアは500（W）×400（D）mmで大型の一般ベアボードからBGA・CSP・MCM等の高密度・超微細基板まで対応でき，ビルドアップ基板の検査も可能．また，各アーム4端子計測が可能で微小なパターン抵抗が測定できる．（‐71〜74/‐75） |
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| 日置電機 |
１１１８
Ｘ-Ｙインテグレーテッドハイテスタ |
FC-PGA・FC-BGA・MCM等半導体パッケージ基板の高速検査装置．Max.100回／秒の超高速検査を実現．ショート/オープン検査，DC250Vまでの絶縁試験に加え，4端子抵抗測定機能を標準装備し，IVHの低抵抗検査にも対応． |
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| 日置電機 |
１２７０・１２７１
Ｘ-Ｙボードハイテスタ |
フロント2アーム，バック2アームの計4アームで両面同時検査が可能．4端子抵抗測定機能によりIVHやスルーホールの微小抵抗の測定が可能な高速ベアボード検査装置．移動反復精度±20μmの高精度ながら，検査スピードは最高0.012秒/ステップの高速検査を実現． |
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| 日置電機 |
１２８１
Ｘ−Ｙベアボードハイテスタ |
水平型両面X-Y検査機. 25GΩ（250V印加）までカバーする高速絶縁検査が、絶縁状態の劣化検出を実現.
配線パターン間や積層レイヤ間の絶縁抵抗を確実に判定できる. 高精度低抵抗測定により切れ掛かりのパターンやビアオープンなどの導通不良を正確に見極められる. |
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| 日置電機 |
１１１７
Ｘ-Ｙボードハイテスタ |
フロント2アーム、バック2アームの計4アームで両面同時検査可能．4端子抵抗測定機能によりIVHやスルーホールの微小抵抗測定が可能な高速ベアボード検査装置．導通検査方式と容量測定方式のいずれも可能で、大型の一般ベアボードからBGA・CSP・MCM等の高密度・超微細基板まで対応可． |
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